Презентация Наномеханика. Кривизна и неустойчивость тонких пленок

Презентация Наномеханика. Кривизна и неустойчивость тонких пленок


Предлагаем ознакомиться с содержанием и скачать для редактирования или печати презентацию «Наномеханика. Кривизна и неустойчивость тонких пленок», содержащую 26 слайдов и доступную в формате ppt. Размер файла доклада составляет 2.02 MB

Просмотреть и скачать

Слайды и текст этого доклада

Наномеханика Nanomechanics of materials and systems Lecture 4 Кривизна и неустойчивость тонких плено
Рис.1 Наномеханика Nanomechanics of materials and systems Lecture 4 Кривизна и неустойчивость тонких пленок Curvature and surface instability
Деформации и изгиб в пленке и подложке Strain and bending in a film/substrate sandwich
Рис.2 Деформации и изгиб в пленке и подложке Strain and bending in a film/substrate sandwich
Упругие деформации в пленке и подложке Strain in film and substrate
Рис.3 Упругие деформации в пленке и подложке Strain in film and substrate
Точность формулы Стони Accuracy of Stoney formula
Рис.4 Точность формулы Стони Accuracy of Stoney formula
Экспериментальное определение кривизны структур Experimental study of curvature Лазерное сканировани
Рис.5 Экспериментальное определение кривизны структур Experimental study of curvature Лазерное сканирование поверхности (Laser scanning) Многолучевое оптическое отражение (Multibeam optical reflection) Отражение изображения светлой сетки (Grid reflection) Изменение картины интерференции (Optical interference fringes)
Scanning laser method
Рис.6 Scanning laser method
Многослойные структуры Multilayer structures
Рис.7 Многослойные структуры Multilayer structures
Влияние анизотропии на деформации Anisotropy in curvature
Рис.8 Влияние анизотропии на деформации Anisotropy in curvature
Область геометрически-нелинейных деформаций Geometrically nonlinear deformations
Рис.9 Область геометрически-нелинейных деформаций Geometrically nonlinear deformations
Изменение кривизны по площади Variation of curvature
Рис.10 Изменение кривизны по площади Variation of curvature
Bifurcation in equilibrium shape
Рис.11 Bifurcation in equilibrium shape
Экспериментальное определение упругих деформаций в пленках Experimental determination of strain in f
Рис.12 Экспериментальное определение упругих деформаций в пленках Experimental determination of strain in films Измерения параметра решетки пленок по рентгеновской дифракции X-ray diffraction Измерения кривизны структур Optical measurements of curvature Микро-Рамановская спектроскопия Micro-Raman scattering Просвечивающая электронная микроскопия Transmission electron microscopy Изменение энергий электронных состояний Change in electronic states
Микро-Рамановская спектроскопия Micro-Raman scattering
Рис.13 Микро-Рамановская спектроскопия Micro-Raman scattering
Просвечивающая электронная микроскопия Transmission electron microscopy
Рис.14 Просвечивающая электронная микроскопия Transmission electron microscopy
Изменение энергий электронных состояний Change in energy of electronic states
Рис.15 Изменение энергий электронных состояний Change in energy of electronic states
Should a surface of a stressed solid be flat? Does a flat surface provide the lowest energy?
Рис.16 Should a surface of a stressed solid be flat? Does a flat surface provide the lowest energy?
Нестабильность механически напряженной пленки Instability of mechanically stressed films
Рис.17 Нестабильность механически напряженной пленки Instability of mechanically stressed films
Малые периодические изменения толщины Small periodic variation of thickness
Рис.18 Малые периодические изменения толщины Small periodic variation of thickness
Малые периодические изменения толщины Small periodic variation of thickness
Рис.19 Малые периодические изменения толщины Small periodic variation of thickness
Плотность энергии и химический потенциал Energy and chemical potential
Рис.20 Плотность энергии и химический потенциал Energy and chemical potential
Критическая длина стабильности Critical length of stability
Рис.21 Критическая длина стабильности Critical length of stability
Нестабильность напряженной пленки Asaro-Tiller--Grinfeld instability
Рис.22 Нестабильность напряженной пленки Asaro-Tiller--Grinfeld instability
Нестабильность пленки GeSi на Si Asaro-Tiller--Grinfeld instability of GeSi on Si
Рис.23 Нестабильность пленки GeSi на Si Asaro-Tiller--Grinfeld instability of GeSi on Si
Возмущения второго порядка Second order disturbation
Рис.24 Возмущения второго порядка Second order disturbation
Применимость приближения малых флуктуаций Applicability of small perturbation approach
Рис.25 Применимость приближения малых флуктуаций Applicability of small perturbation approach
Домашнее задание (Homework) 4
Рис.26 Домашнее задание (Homework) 4


Скачать презентацию