Презентация «Принцип работы сканирующего туннельного микроскопа (СТМ). Получение изображения поверхности в режиме постоянного туннельного то»
Смотреть слайды в полном размере 
Вы можете ознакомиться с презентацией онлайн, просмотреть текст и слайды к ней, а также, в случае, если она вам подходит - скачать файл для редактирования или печати. Документ содержит 16 слайдов и доступен в формате ppt. Размер файла: 736.50 KB
Pic.1
Лекция 20 Слайд 1 Темы лекции Принцип работы сканирующего туннельного микроскопа (СТМ). Получение изображения поверхности в режиме постоянного туннельного тока и в режиме метода постоянной высоты. …
Pic.2
Лекция 20 Слайд 2 Исторически первым в семействе зондовых микроскопов появился сканирующий туннельный микроскоп (СТМ). Он был создан в 1981 году Гердом Биннигом и Генрихом Рорером в …
Pic.3
Лекция 20 Слайд 3 Принцип работы СТМ основан на явлении туннелирования электронов через узкий потенциальный барьер между металлическим зондом и проводящим образцом во внешнем электрическом поле. …
Pic.4
Лекция 20 Слайд 4 В СТМ зонд подводится к поверхности образца на расстояния в несколько ангстрем. При этом образуется туннельно-прозрачный потенциальный барьер, величина которого определяется, в …
Pic.5
Лекция 20 Слайд 5 Энергетическая диаграмма туннельного контакта двух металлов Для туннельного контакта двух металлов константа затухания
Pic.6
Лекция 20 Слайд 6 При приложении к туннельному контакту разности потенциалов V между зондом и образцом появляется туннельный ток. В процессе туннелирования участвуют, в основном, электроны с энергией …
Pic.7
Лекция 20 Слайд 7 При условии малости напряжения смещения V << данное выражение существенно упрощается Так как экспоненциальная зависимость очень сильная, то для оценок и качественных …
Pic.8
Лекция 20 Слайд 8 Экспоненциальная зависимость туннельного тока от расстояния позволяет осуществлять регулирование расстояния между зондом и образцом в туннельном микроскопе с высокой точностью. Так …
Pic.9
Лекция 20 Слайд 9 Метод постоянного туннельного тока зонд перемещается вдоль поверхности, осуществляя сканирование по растру; изменение напряжения на Z-электроде пьезоэлемента в цепи ОС (с большой …
Pic.10
Лекция 10 Слайд 10 Метод постоянной высоты (Z = const) Более эффективный при исследовании атомарно гладких поверхностей. Зонд перемещается над поверхностью на расстоянии нескольких ангстрем, при этом …
Pic.11
Лекция 20 Слайд 11 Высокое разрешение СТМ по оси Z (доли ангстрема) определяется экспоненциальной зависимостью туннельного тока от расстояния до поверхности. Подобное разрешение определяется, в …
Pic.12
Лекция 20 Слайд 12 Для неоднородных образцов туннельный ток является не только функцией расстояния от зонда до образца, но также зависит от значения локальной работы выхода электронов в данном месте …
Pic.13
Лекция 20 Слайд 13 Частота модуляции ω выбирается выше частоты полосы пропускания петли обратной связи, чтобы система обратной связи не могла отрабатывать данные колебания зонда. Амплитуда …
Pic.14
Лекция 20 Слайд 14 Колебания расстояния зонд-образец приводят к тому, что появляется переменная составляющая тока на частоте ω и выражение для туннельного тока принимает вид Так как Δzm << Δz0, …
Pic.15
Лекция 20 Слайд 15 Если использовать синхронный детектор и проводить измерения It на частоте , то в каждой точке растра (xy) измеряемая амплитуда частотной модуляции туннельного тока может быть …
Pic.16
Лекция 20 Слайд 16 С помощью СТМ можно снимать вольт-амперные характеристики (ВАХ) туннельного контакта в различных точках поверхности. На СТМ изображении выбирается область, для измерения ВАХ. Зонд …
Если вам понравился сайт и размещенные на нем материалы, пожалуйста, не забывайте поделиться этой страничкой в социальных сетях и с друзьями! Спасибо!
